Mdigital
Pada umumnya untuk mengamati benda berukuran kecil menggunakan mikroskop. Namun tidak semua mikroskop mampu mengamati benda-benda yang berukuran lebih kecil dari panjang gelombang cahaya tampak. Oleh karena itu, diciptakanlah Mikroskop Elektron atau Scanning Electron Microscope (SEM). Meskipun tidak diketahui secara persis siapa sebenarnya penemu mikroskop pemindai elektron ini, namun SEM pertama dipasarkan oleh Cambridge Instrument Company pada tahun 1965.
Mikroskop biasa memanipulasi cahaya untuk menampilkan benda yang begitu kecil sehingga tampak besar. Karena cara kerjanya dengan memanfaatkan cahaya, mikroskop ini mempunyai keterbatasan dalam tingkat ketelitian yang dipengaruhi oleh panjang gelombang cahaya. Mikroskop ini tidak bisa dipakai untuk mengamati benda-benda yang berukuran lebih kecil dari panjang gelombang cahaya tampak.
Scanning Electron Microscope (SEM)
Mikroskop elektron atau Scanning Electron Microscope (SEM) bekerja dengan memanipulasi pulsa-pulsa (pancaran) elektron seperti halnya cahaya pada mikroskop biasa dan ditabrakan pada permukaan obyek atau benda. Hasil tabrakan elektron dengan benda yang berupa gelombang atau pun partikel sub atom ditangkap oleh sensor dan kemudian diolah oleh komputer menjadi gambar perbesaran dari permukaan benda tersebut.
Sama seperti mikroskop biasa, ketelitian SEM dipengaruhi oleh panjang gelombang elektronnya. Berkat penelitian dan kemajuan teknologi yang pesat saat ini ketelitian SEM telah mencapai 0.1 nm atau setingkat dengan besarnya satu atom. Dengan ini, benda sekecil 1/1000000000 m atau 1 nanometer (nm) bisa dilihat. Hal ini membuka pintu besar dalam perkembangan teknologi elektronik yang memanfaatkan teknologi nanometer dewasa ini.
Walaupun tingkat ketelitian mendatar (2 dimensi) SEM sekarang sudah begitu tinggi, namun SEM tidak bisa menampilkan hasil pengamatan 3 dimensi. Selain itu, kelemahan SEM lainnya adalah sampel harus dimasukkan kedalam ruangan bertekanan rendah (hampa udara) dan dibombardir dengan pancaran electron, sehingga akan menyebabkan kerusakan pada sampel organik.
Dalam dunia pengamatan dan penelitian skala nanometer, kebutuhan untuk mengetahui tekstur luas dan tinggi rendah (3 dimensi) suatu permukaan menjadi penting. Jika SEM bisa menampilkan hasil pengamatan 2 dimensi maka alat yang mampu menampilkan hasil pengamatan 3 dimensi dengan tingkat ketelitian mendatar dan ketelitian vertikal sangat tinggi adalah Scanning Probe Microscope atau atau Scanning Probe Microscopy (SPM).
Berbeda dengan mikroskop biasa dan SEM yang memanfaatkan manipulasi cahaya dan elektron, SPM menggunakan probe atau jarum yang disebut cantilever. Metode penggunaan cantilever ini tentu saja sangat berbeda dengan metode-metode sebelumnya.
Jenis Scanning Probe Microscope (SPM) sendiri ada bermacam-macam berdasarkan prinsip kerjanya. Ada STM (Scanning Tunnelling Microscope), AFM (Atomic Force Microscope), NSOM (Near-field Scanning Optical Microscope).
Sumber: Miftakhul Huda. “Cara melihat benda berukuran 1/1000000000 m”. Majalah Guru1000.
Mikroskop Elektron (Scanning Electron Microscope)
